开短路测试（Open/Short Test）通常也称为连续性或连接性测试，相关说法错误的是
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开短路测试（Open/Short Test）通常也称为连续性或连接性测试，相关说法错误的是
在晶圆测试阶段，ATE与DUT的连接通常是通过探针卡（Probe Card）实现的，而不是通过器件接口板（DIB）及芯片插座（Socket）。
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