关于漏电流测试，下列说法错误的是
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关于漏电流测试，下列说法错误的是
在实际情况中，制造过程中的工艺缺陷导致的桥接、异物，或封装过程中造成的芯片划伤、隐裂，往往会导致绝缘性能下降，从而使得漏电流增大，而不是减小。
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